内存芯片和模组出货前，都要测时序、电压和数据错误。大型ATE，比如爱德万的T5503和T5503HS2，测得很好，但价格很高，很多模组厂、小晶圆厂和实验室负担不起。那么，一台面向DDR3、DDR4、LP-DDR3和LP-DDR4的便宜测试机，到底需要什么？下面是我的一些笔记。
速率
要覆盖DDR3和DDR4，速率需要从800 MT/s到3200 MT/s。DDR在时钟的上升沿和下降沿都传数据，所以3200 MT/s对应1600 MHz的I/O时钟，每个比特只有312.5 ps。在这个速率下，测试机的时序精度和信号完整性，和标称速率一样重要。夹具、测试座和走线长度都会吃掉余量。
一台测试机支持多种标准
这四种标准的电压、命令和初始化流程都不一样。便宜的设计会把时序发生器、图形引擎和采集逻辑做成公用的，把和标准相关的部分放在可更换的接口板和固件里。这样以后升级也方便：遇到新的内存标准，换一块接口板就行，不用再买一台测试机。
图形发生（ALPG）
光跑得快，找不到缺陷，还得有合适的测试图形：March算法、棋盘格、走1走0、行锤（row hammer）类干扰图形等等。测试机里有硬件的算法图形发生器（ALPG），就能全速实时生成这些地址和数据序列，不用把每条向量都存起来。覆盖率不受向量存储的限制，测试时间也短。
低电压
DDR3是1.5 V，DDR4是1.2 V，LP-DDR3是1.2 V，LP-DDR4是1.1 V。要在这些电压下测试，还要做高于、低于标称值的拉偏测试，电源的调节步进要细，纹波要低。电压低，测试头发热也少，散热简单，电费也省。
测试成本
机器的价格只是一部分，真正要看的是每颗被测器件的成本，它取决于吞吐量、同时测多少颗、占地、功耗和维护。便宜的测试机，只要对你实际要测的标准来说速率和覆盖率够用，又不用为产线永远用不上的产能买单，就是划算的。
怎么选
选测试机的时候，拿这几点对照一下自己实际要测的内存类型和产量。高端ATE还是更快，并行测试的数量也更多，但很多生产和实验室的场景，用不着那么高的配置。