메모리 칩과 모듈은 출하 전에 타이밍, 전압, 데이터 오류를 테스트해야 합니다. Advantest T5503이나 T5503HS2 같은 대형 ATE는 이 일을 아주 잘하지만 비쌉니다. 모듈 업체나 작은 팹, 연구실 중에는 그 가격이 맞지 않는 곳이 많습니다. 그러면 DDR3, DDR4, LP-DDR3, LP-DDR4용 저가 테스터에는 실제로 무엇이 필요할까요? 아래는 제가 정리한 메모입니다.
속도
DDR3와 DDR4를 커버하려면 800 MT/s부터 3200 MT/s까지 지원해야 합니다. DDR은 클록의 상승 에지와 하강 에지에서 모두 데이터를 보내기 때문에, 3200 MT/s면 I/O 클록은 1600 MHz이고 비트 하나의 폭은 312.5 ps밖에 되지 않습니다. 이 속도에서는 테스터의 타이밍 정확도와 신호 무결성이 스펙상의 데이터 레이트만큼 중요합니다. 픽스처, 소켓, 배선 길이가 모두 마진을 갉아먹습니다.
테스터 한 대로 여러 표준 지원
네 가지 표준은 전압, 명령어, 초기화 시퀀스가 서로 다릅니다. 저렴한 설계에서는 타이밍 제너레이터, 패턴 엔진, 캡처 로직을 공용으로 두고, 표준마다 다른 부분은 교체형 인터페이스 보드와 펌웨어로 넘깁니다. 이렇게 해 두면 나중에 업그레이드하기도 쉽습니다. 새 메모리 표준이 나오면 인터페이스 보드만 바꾸면 되고, 테스터를 새로 살 필요는 없습니다.
패턴 생성(ALPG)
빠르게 돌리기만 해서는 결함을 찾을 수 없습니다. 알맞은 테스트 패턴이 있어야 합니다. March 테스트, 체커보드, 워킹 1/0, 로우 해머 계열의 디스터브 패턴 같은 것들입니다. 하드웨어로 구현한 알고리즘 패턴 생성기(ALPG)가 있으면, 테스터는 모든 벡터를 저장해 두는 대신 이런 주소와 데이터 시퀀스를 최고 속도로 그때그때 만들어 냅니다. 커버리지가 벡터 메모리 크기에 묶이지 않고, 테스트 시간도 짧게 유지됩니다.
저전압
DDR3는 1.5 V, DDR4는 1.2 V, LP-DDR3는 1.2 V, LP-DDR4는 1.1 V입니다. 이 전압에서 테스트하고 그 위아래로 마진 테스트까지 하려면, 전압을 잘게 조정할 수 있고 리플이 작은 전원이 필요합니다. 전압이 낮으면 테스트 헤드의 발열도 줄어서 냉각이 간단해지고 전기 요금도 덜 나옵니다.
테스트 비용
장비 가격은 테스트 비용의 일부일 뿐입니다. 중요한 것은 테스트한 디바이스 한 개당 비용이고, 이 비용은 처리량, 동시에 테스트하는 디바이스 수, 설치 면적, 전력, 유지보수로 정해집니다. 저가 테스터가 제값을 하는 건, 실제로 테스트하는 표준에 필요한 속도와 커버리지를 충분히 갖추면서도 라인에서 끝내 쓰지 않을 성능에 돈을 내지 않을 때입니다.
테스터 고르기
테스터를 고르고 있다면 위의 내용을 실제로 다루는 메모리 종류와 물량에 맞춰 하나씩 따져 보세요. 하이엔드 ATE가 여전히 더 빠르고 한 번에 더 많은 디바이스를 테스트합니다. 하지만 생산 현장이나 연구실 일 가운데는 그 정도까지 필요 없는 경우가 많습니다.